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比表面積及微孔測(cè)試儀技術(shù)手冊(cè)

發(fā)布時(shí)間：2010/5/26 19:59:00

文件類(lèi)型：doc

資料大小：121.50KB

提供者：北京金埃譜科技科技有限公司

【比表面積及微孔測(cè)試儀技術(shù)手冊(cè)】

資料介紹

比表面積及微孔測(cè)試儀儀是粉體和顆粒材料的比表面及孔徑分布的測(cè)定測(cè)量?jī)x器，適用于高校及科研院所材料研究

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