

非接觸式三維測(cè)量檢測(cè)系統(tǒng)
企業(yè)信息
普通會(huì)員第8年
公司類型: 生產(chǎn)商
主運(yùn)營(yíng):三維掃描儀,工業(yè)攝影測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量?jī)x
所在地區(qū):蘇州市
注冊(cè)時(shí)間:2018-05-03
非接觸式三維測(cè)量檢測(cè)系統(tǒng)基于雙目立體視覺原理,采用外差式多頻相移三維光學(xué)測(cè)量技術(shù),可測(cè)量幾毫米至幾十米的物體,精度可達(dá)0.01mm。與傳統(tǒng)的測(cè)量方式相比較,系統(tǒng)受環(huán)境影響小并且無機(jī)械行程限制,尤其適用于復(fù)雜的曲面物體。
系統(tǒng)可快速獲取物體表面的點(diǎn)云數(shù)據(jù),建立物體1:1:1的三維模型,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的快速三維設(shè)計(jì)和尺寸提取。測(cè)量所得的數(shù)據(jù)可與標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品數(shù)據(jù)或設(shè)計(jì)圖進(jìn)行擬合對(duì)比,分型物體點(diǎn)線面的形位偏差,實(shí)現(xiàn)物體整體及局部檢測(cè),輸出數(shù)據(jù)報(bào)告。
常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)型
型號(hào) |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
測(cè)量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
相機(jī)像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
測(cè)量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
采樣點(diǎn)距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
掃描時(shí)間(s) |
2~4 |
||
掃描光源 |
藍(lán)/白 |
||
拼接方式 |
標(biāo)志點(diǎn)/特征/手動(dòng) |
高端工業(yè)型
型號(hào) |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
測(cè)量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
相機(jī)像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
測(cè)量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
采樣點(diǎn)距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
掃描時(shí)間(s) |
2~8 |
||
掃描光源 |
藍(lán)/白 |
||
拼接方式 |
標(biāo)志點(diǎn)/特征/手動(dòng) |
備注:拍照式三維掃描儀抄數(shù)機(jī)CCD支持升級(jí)600萬/900萬,支持依據(jù)客戶需求定制。

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