產(chǎn)品頻道

      產(chǎn)品介紹：

　　超高速/高精度CMOS激光位移傳感器

　　•超快的速度:392kHz

　　•超高的精度:±0.02%

　　•超高的重復性:0.005μm

　　•全新開發(fā)的“ABLEII”控制

　　•全新中等距離傳感器頭:

　　LK-H008/008W/80/82/85/87/150/152/155/157

　　激光位移傳感器必須同時具備速度，精度和卓越性能，以便勝任所有應用。LK-G5000采用了國際頂尖技術(shù)，力爭在各個方面都做到世界最佳。

　　產(chǎn)品特性

　　精確測量所有目標物

　　小型感測頭集成了高新技術(shù)，成為“業(yè)界最佳”。

　　[全新開發(fā)]ABLEIIACTIVEBALANCEDLASERCONTROLENGINE(動態(tài)平衡激光控制引擎)

      目標物將激光強度自動調(diào)整到最佳狀態(tài)

　　如今，構(gòu)建良好的ABLE控制更加強勁。ABLEII通過平衡激光發(fā)射時間、激光功率和增益這三種要素，能夠智能優(yōu)化RS-CMOS功能。此外，ABLEII具備高速的追蹤能力，比常規(guī)型號要快八倍。

　　[全新開發(fā)]RS-CMOSR=HIGH-RESOLUTION(高重復精度)S=HIGH-SPEED(高速)

　　LK-G5000系列專用的超高再現(xiàn)性/高速CMOS傳感器

　　“高速”和“高重復精度”同時實現(xiàn)。雙端口數(shù)據(jù)傳輸功能能夠以更高的速度傳輸更高像素的數(shù)據(jù)，從而使重復精度翻倍。使用四倍速度還能實現(xiàn)更高速的傳輸。此外，使用全新開發(fā)的HDE*物鏡，可以擁有高度定義的接收光波形和雙倍的像素重復精度。因此，KEYENCE實現(xiàn)了高精度和高再現(xiàn)性，具備勝任高難度應用的能力。

　　*HDE物鏡=高精度Ernostar物鏡

　　穩(wěn)定測量粗糙物體

　　在粗糙物體上進行穩(wěn)定的測量

　　關(guān)于本產(chǎn)品的詳細內(nèi)容，請使用右上方的圖標下載目錄后確認。

　　寬光點型

　　看上去平整的表面在放大后就會發(fā)現(xiàn)有一些細微的凹凸不平。在使用常規(guī)聚焦光點型傳感器時，這些細微的表面不平時常會造成測量錯誤。通過使用寬光點的感測頭，就可以均化表面不平整的影響，即使在粗糙物體上也能實現(xiàn)穩(wěn)定的測量。

　　光點直徑

　　金屬表面的測量

　　最大限度地減少粗糙表面的不平整所造成的影響，例如拉絲金屬表面和橡膠表面等。以往前所未有的測量精確度現(xiàn)在已成為現(xiàn)實。

　　得益于LK-G5000系列中使用的高級圓柱形物鏡，整個測量范圍內(nèi)的光點寬度始終保持一致。這樣即使目標距離感測頭過近或過遠，平分面積始終不變。

　　精確測量精細物體和輪廓

　　最適合精細或輪廓測量

　　聚焦光點型

　　同類中最小的光點直徑，ø25μm（LK-H020），可測量從精細部件到輪廓的任何目標物，精確度達到行業(yè)最高水準。

　　光點直徑

　　測量IC陣腳高度

　　得益于deltacut技術(shù)，濾光片導致的畸變被降至最低。這些對光學系統(tǒng)的改進意味著光點不僅在RS-CMOS上聚焦，在目標區(qū)域中同樣精確聚焦。這樣就能實現(xiàn)之前無法完成的高精度輪廓測量。

　　高精度測量透明/鏡面物體

　　透明/鏡面表面測量結(jié)果展示

　　鏡面反射型

　　LK-G5000系列包含一組感測頭，專為玻璃或其他鏡面等高反射物體而設(shè)計。感測頭包含寬光點和聚焦光點兩種等類型，最適合在這些表面上進行高精度測量。感測頭包含寬光點和聚焦光點兩種等類型，最適合在這些表面上進行高精度測量。

　　光點直徑(寬光點型)

　　光點直徑(聚焦光點型)

　　測量觸摸屏的縫隙

　　這些專用感測頭中的光學系統(tǒng)已經(jīng)過優(yōu)化，可在高反射率的鏡面物體上獲得最大分辨率。通過進一步改進接收光元件的功能性，現(xiàn)在可穩(wěn)定測量20μm的縫隙。