時間:2021-10-15 15:23:05來源:普愛納米位移技術(上海)有限公司
為了確保提供質量達標、穩(wěn)定可靠且堅固耐用的產品,包括汽車行業(yè)、光學行業(yè)、醫(yī)療設備制造業(yè)甚至電子和半導體行業(yè)在內的眾多工業(yè)領域,無論是在專業(yè)計量室還是在生產質檢環(huán)節(jié),均已開始大規(guī)模應用測量和測試系統(tǒng)。在業(yè)開發(fā)測試程序的過程中,新的挑戰(zhàn)不斷浮現(xiàn):由于新材料制成的新產品上市頻率越來越快,所以必須在更短的時間內制造和檢驗更多的產品。此外,在形狀和表面結構方面,部件和功能也變得更加小型化和多樣化。因此,要想實現(xiàn)可靠的質檢,定位解決方案不可或缺。此類方案能夠以精確且協(xié)調的方式移動部件和測試組件(如攝像機和傳感器)、通常具備多種自由度,并且能夠在不影響產量的前提下輕松集成到生產線中。得益于產品和技術的多樣性以及在精密自動化領域的豐富經驗,PI能夠為客戶測試過程中的任何定位任務提供最佳的運動和控制解決方案。因此,PI可確保在先進測量技術的開發(fā)期間實現(xiàn)更快的初始啟動速度、更好的適配度和更有力的支持。
PI可提供以下應用的運動和控制解決方案:
非接觸式2D/3D表面輪廓分析
觸覺測量與測試
加速度和位置傳感器測試
自動光學檢測(AOI)
相機和傳感器對準
測試和改進圖像捕捉
在較差的照明條件下拍攝清晰照片、快速拍照而不出現(xiàn)模糊、識別交通標志和道路標記,或使用特定系統(tǒng)識別危險情況 - 這些任務對于現(xiàn)今的相機來說并非難事。但使用相機或智能手機拍攝的靜態(tài)圖片和視頻的質量如何呢?
借助六足位移臺的運動模擬功能實現(xiàn)可靠測試并提高圖像質量
在較差的照明條件下拍攝清晰照片、快速拍照而不出現(xiàn)模糊、識別交通標志和道路標記,或使用特定系統(tǒng)識別危險情況 -這些任務對于現(xiàn)今的相機來說并非難事。但使用相機或智能手機拍攝的靜態(tài)圖片和視頻的質量如何呢?與其他供應商的產品相比又如何呢? 廣大的終端用戶,智能手機、無人機、AR/VR耳機和相機的制造商,以及汽車、航運、醫(yī)療和安全行業(yè)的公司,都對靜態(tài)圖片和視頻的質量有很高要求,并一直期望獲得能夠推動行業(yè)創(chuàng)新的解決方案。
要回答上述問題,需要測試用于避免圖像模糊的穩(wěn)像組件對真實運動的補償效果。例如,測試位置傳感器或陀螺儀、加速度傳感器、相機模塊或圖像傳感器、激光雷達傳感器或車船上的操作裝置。在測試過程中,必須以相同的條件拍攝并評估數(shù)千張圖像!其挑戰(zhàn)不僅在于確??芍貜托?,還要模擬在不同速度和運動順序下的各種快速運動,比如攝影師的抖動、車輛或無人機的振動。
支持復雜運動輪廓的六軸并聯(lián)位移臺
支持復雜運動輪廓是六足位移臺的任務之一。該六軸定位系統(tǒng)滿足運動軸、動力學、路徑精度和可重復性等多方面要求,能夠精確而快速地模擬真實的操作條件。PI與客戶密切合作,分析了各個測試程序和測試對象對六足位移臺的要求,并針對復雜運動輪廓進行了現(xiàn)場驗證。此外,PI還提供多種六足位移臺類型和編輯選項,以便快速應對不斷變化的測試設備要求和相機操作條件。
確保形狀精度 非球面透鏡具有繞光軸旋轉對稱的光學元件,其曲率半徑隨距中心的距離呈徑向變化。光學系統(tǒng)能夠通過這一原理獲得高質量的圖像,從而減少所需的元件數(shù)量,進而節(jié)省成本和重量。
六足位移臺助力提高非球面透鏡的分析精度和速度
非球面透鏡具有繞光軸旋轉對稱的光學元件,其曲率半徑隨距中心的距離呈徑向變化。光學系統(tǒng)能夠通過這一原理獲得高質量的圖像,從而減少所需的元件數(shù)量,進而節(jié)省成本和重量。然而,對于制造商而言,測試非球面透鏡的形狀精度(即此類透鏡的成像質量)相當具有挑戰(zhàn)性:用戶需要測量納米級的微小形狀偏差,同時盡量縮短測量和設置時間。
全新技術:傾斜波陣面技術
出于上述原因,計量公司Mahr開發(fā)了一款新型儀器,直接在生產線上對不同的非球面透鏡進行精確、快速、靈活的測量,而不需要CGH、傳統(tǒng)縫合或觸覺接觸。與需要花費數(shù)分鐘進行測量的現(xiàn)有系統(tǒng)相比,此傾斜波陣面干涉儀只需20到30秒即可測量整個表面。 在評估前一個測試對象的同時,可以測量下一個測試對象。干涉儀經過專門設計,能夠以很高的橫向分辨率測量整個表面形狀,測量不確定度小于50 nm。
與其他測量設備一樣,干涉儀需設定參考并經過校準。為此,干涉儀中包含一個根據既有幾何規(guī)范制造的高精度球體,可移動到測量體中的不同位置以進行校準。由于校準球的橫向位置誤差會影響校正算法,因此必須在空間中精確定位校準球,并且必須在測量過程中保持其位置穩(wěn)定。此校準過程應涵蓋整個測量體積,因此需在許多不同位置執(zhí)行。
在多種自由度下定位校準球和測試對象
為滿足干涉儀定位任務的嚴格要求,PI通過六軸并聯(lián)位移臺為Mahr提供支持。該位移臺可在多種自由度下精確定位校準球和測試對象,以改進形狀精度的光學分析。
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