2011年4月——NI近日發(fā)布了《2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望》，就影響測(cè)試測(cè)量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結(jié)果。該報(bào)告所闡述的發(fā)展趨勢(shì)覆蓋了消費(fèi)電子、汽車、半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療設(shè)備和通信等眾多產(chǎn)業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實(shí)踐案例，優(yōu)化測(cè)試組織架構(gòu)。
《2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望》以學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、網(wǎng)上論壇、問卷調(diào)查、商業(yè)咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進(jìn)行調(diào)查，提出了下一代測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)，以應(yīng)對(duì)該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術(shù)挑戰(zhàn)。報(bào)告從四個(gè)方面進(jìn)行了闡述：
-- 組織機(jī)構(gòu)優(yōu)化：集成驗(yàn)證與生產(chǎn)測(cè)試需要注意策略、流程、人力與技術(shù)上的改變。
-- 軟件系統(tǒng)：一個(gè)高度集成的軟件框架提供了一個(gè)靈活的系統(tǒng)架構(gòu)，用于不斷升級(jí)增加測(cè)量功能，并縮短開發(fā)時(shí)間和測(cè)試時(shí)間。
-- 異質(zhì)計(jì)算結(jié)構(gòu)：未來的測(cè)試系統(tǒng)將會(huì)需要不同的處理節(jié)點(diǎn)，來滿足更加嚴(yán)格的分析與處理要求。
--IP to the Pin：在設(shè)計(jì)與測(cè)試階段分享FPGA IP可顯著縮短設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)間，并改善生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間與測(cè)試覆蓋性能。
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