泛華測控赴美參展 助力NI Week

時間:2010-08-04

來源:北京中科泛華測控技術有限公司

導語:第16屆全球虛擬儀器技術盛會——NI Week將于美國當?shù)貢r間8月3日在德州的奧斯汀市盛大開幕。

      第16屆全球虛擬儀器技術盛會——NI Week將于美國當?shù)貢r間8月3日在德州的奧斯汀市盛大開幕。預計全球將有超過3000余名工程師、科學家及相關學術人員參會。作為NI公司在中國的多年合作伙伴——北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱:泛華測控)將參加此次盛會,并將展示其基于NI虛擬儀器技術應用的部分解決方案及產(chǎn)品,展品主要為LECT-1101、PXI一體化機箱和VAS-HJ專用振動測試分析儀。

      作為泛華測控今年的主推產(chǎn)品,LECT(Laboratory Education courseware experT)-1101是一套應用于高校實驗教學的即插即用的課件系統(tǒng)。它是基于NI ELVIS開發(fā)平臺,結合Labview程序,并根據(jù)中國高校自控專業(yè)最典型的10個實驗設計開發(fā)而成。

      PXI一體化機箱則是一款應用于外場實驗設備的系統(tǒng)級產(chǎn)品。小機箱便于攜帶,配合相應功能PXI板卡,能應用于各種現(xiàn)場數(shù)據(jù)采集、分析及實驗研究。

      而VAS-HJ專用振動測試分析儀是一款對振動信號的波形分析及參數(shù)測試監(jiān)控的智能檢測和測試系統(tǒng),同時,其還具有可為傳感器提供恒流激勵等多種功能。

      在今后三天的會議中,泛華測控還將與來自世界各地的專家學者、NI用戶、代理商、系統(tǒng)聯(lián)盟商就虛擬儀器技術進行深入的探討與交流。

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